泰克KEITHLEY吉時(shí)利DMM7510數(shù)字萬(wàn)用表

更新時(shí)間：2019-05-15

簡(jiǎn)要描述：

泰克KEITHLEY吉時(shí)利DMM7510數(shù)字萬(wàn)用表帶觸摸功能。符合嚴(yán)格的精度要求
100mV，1Ω 和 10μA 量程
提供測(cè)量低電平信號(hào)所需的靈敏度。
1MS/sec 數(shù)字化器無(wú)需單獨(dú)儀器捕獲和顯示波形或瞬態(tài)信號(hào)。
大容量?jī)?nèi)存緩沖存儲(chǔ)超過(guò) 1,100 萬(wàn)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)模式讀數(shù)，超過(guò) 2,750 萬(wàn)個(gè)緊湊型模式讀數(shù)，支持更長(zhǎng)測(cè)量周期
偏置補(bǔ)償歐姆、四線和弱電流電路功能能夠?qū)崿F(xiàn)更精確的低電阻測(cè)量。

型號(hào)：點(diǎn)擊量：2369

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泰克KEITHLEY吉時(shí)利DMM7510數(shù)字萬(wàn)用表 帶觸摸功能

這款 DMM7510 集高精度數(shù)字萬(wàn)用表、圖形化觸摸屏顯示器和高速、高分辨率數(shù)字化器的所有優(yōu)勢(shì)于一身，創(chuàng)造業(yè)界的圖形采樣萬(wàn)用表。除了功能齊全的 DMM，這款數(shù)字化儀器提供*的信號(hào)分析，而且在觸摸屏顯示器上還可以對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行觀察、互動(dòng)和研究，具有突破性的簡(jiǎn)單特性。這款采樣 DMM 采用低噪音輸入級(jí)和 32 位 A/D 轉(zhuǎn)換器，能夠提供只有計(jì)量級(jí)儀器才有的 DC 精度，但價(jià)格大約是其一半。這款數(shù)字化萬(wàn)用表集高性能和高易用性于一身，讓您能夠深度分析測(cè)試結(jié)果，*。

泰克KEITHLEY吉時(shí)利DMM7510數(shù)字萬(wàn)用表 帶觸摸功能

DMM7510 型儀表是集高精度數(shù)字萬(wàn)用表、圖形觸摸顯示屏、高速高分辨率數(shù)字化儀優(yōu)勢(shì)于一體的業(yè)界*款圖形采樣萬(wàn)用表。數(shù)字化儀使得DMM7510具有* 的信號(hào)分析靈活性；5英寸電容觸摸顯示屏使得它易于觀察、交互和測(cè)量，具有雙指縮放的簡(jiǎn)潔性。這個(gè)高性能和高易用性組合可以使用戶對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行更深入的洞察。

利用內(nèi)建1MS/s數(shù)字化儀捕捉波形

利用DMM7510 的電壓或電流數(shù)字化函數(shù)，波形和瞬態(tài)事件的捕獲和顯示將變得更加容易。內(nèi)建采樣速率高達(dá)1MS/s的18位數(shù)字化儀使得無(wú)需使用單獨(dú)儀器就可以采集波形。數(shù)字化函數(shù)與直流電壓和電流函數(shù)使用同一量程，提供出眾的動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍。此外，電壓數(shù)字化函數(shù)使用相同的直流電壓輸入阻抗(10GΩ或10MΩ)電平，從而大幅降低待測(cè)器件的負(fù)擔(dān)。

高速數(shù)字化函數(shù)允許捕捉和顯示電壓波形和電流波形

先進(jìn)觸發(fā)選項(xiàng)使得在正確點(diǎn)位精確地捕獲信號(hào) 成為可能

利用內(nèi)建圖表工具，可以對(duì)來(lái)自4個(gè)讀取緩沖器的測(cè)量結(jié)果或波形即刻進(jìn)行顯示和比較

DMM 7510 7位半觸摸屏數(shù)采萬(wàn)用表

高精度萬(wàn)用表，具有3位半至7位半分辨率
1年直流電壓基本準(zhǔn)確度為14 PPM
100mV、1Ω和10μA量程提供低電平信號(hào)測(cè)量所需的靈敏度
進(jìn)行高精度低電阻測(cè)量，具有偏移補(bǔ)償電阻、4線和干電路功率
通過(guò)1MS/s數(shù)字化儀捕捉和顯示波形或瞬態(tài)事件
更大的內(nèi)存緩沖器；以標(biāo)準(zhǔn)模式存儲(chǔ)1100萬(wàn)個(gè)讀數(shù)或以壓縮模式存儲(chǔ) 2750萬(wàn)個(gè)讀數(shù)
自動(dòng)校準(zhǔn)特性實(shí)現(xiàn)溫度和時(shí)間漂移小化，從而提高精度和穩(wěn)定性
通過(guò)5英寸高分辨率觸摸屏界面可以顯示更多
通過(guò)前面板的USB存儲(chǔ)端口可以快速保存讀數(shù)和屏幕圖像
多個(gè)連接選項(xiàng)：GPIB, USB, 與 LXI兼容的LAN接口
2年規(guī)范允許更長(zhǎng)的校準(zhǔn)周期

高度自信地進(jìn)行苛刻測(cè)量

DMM7510的設(shè)計(jì)充分利用吉時(shí)利的低電平測(cè)量專長(zhǎng)。低噪聲輸入級(jí)和32位A/D 轉(zhuǎn)換器等特性，使得該儀器能提供通常只有計(jì)量級(jí)儀器才具有的直流精度，但價(jià)格只是這些解決方案的一半左右。DMM7510的100mV、10Ω和10μA量程為當(dāng)今苛刻的電子設(shè)計(jì)提供低信號(hào)測(cè)量所需的靈敏度。除了1年和2年高精度規(guī)范，其自動(dòng)校準(zhǔn) 功能確保校準(zhǔn)周期之間的更大精度。

DMM7510的1V直流噪聲性能與6位半和8位半數(shù)字萬(wàn)用表的直流噪聲性能比較。所有數(shù)據(jù)都是在1個(gè)采樣工頻周期內(nèi)、在輸入端低熱短路情況下得到的。

15個(gè)測(cè)量函數(shù)

DMM7510提供15個(gè)測(cè)量功能。除了數(shù)字化電壓和電流函數(shù)，它還包括電容、交流電壓和交流電流、溫度(RTD、電熱調(diào)節(jié)器和熱電偶)、2線和4線電阻、干電路電阻、周期、頻率、二極管測(cè)試和直流電壓比。該儀器的扁平菜單結(jié)構(gòu)允許快速配置并提高可用性。其直覺(jué)設(shè)計(jì)允許用戶學(xué)習(xí)怎樣操作儀器，以及更迅速、更有信心地開始器件測(cè)量。

DMM7510測(cè)量能力

為更高的測(cè)試生產(chǎn)率而設(shè)計(jì)

除了先進(jìn)的觸摸屏，DMM7510的前面板提供多種特性，用于提高其速度、用戶友好性和可學(xué)習(xí)性，包括USB 2.0存儲(chǔ)I/O端口、HELP按鍵、旋轉(zhuǎn)導(dǎo)航/控制旋鈕、前/后輸入選擇按鈕。所有的前面板按鈕都采用背光，以提高可視性。

DMM7510的后面板可以提供連接與控制，包括輸入連接器、程控接口(GPIB, USB 2.0, LXI/Ethernet), D-sub 9針數(shù)字I/O端口(用于內(nèi)部/外部觸發(fā)信號(hào)和處理程序控制), TSP-Link®插孔，用于與其他TSP 支撐儀器的連接，從而簡(jiǎn)化多儀器測(cè)試方案的配置。

靈活的系統(tǒng)集成與編程

為了給用戶提供大的編程靈活性并簡(jiǎn)化多儀器測(cè)試系統(tǒng)配置，DMM7510包含功能強(qiáng)大的吉時(shí)利測(cè)試腳本處理器(TSP®)系統(tǒng)和SCPI編程方式。嵌入式腳本能力允許直接在儀器上運(yùn)行功能強(qiáng)大的測(cè)試腳本，無(wú)需外部PC控制器。這些測(cè)試腳本是完整的測(cè)試程序，它們基于易用、高效和簡(jiǎn)潔的腳本語(yǔ)言Lua。腳本是儀器控制指令和/或程序語(yǔ)句的集合。程序語(yǔ)句控制腳本執(zhí)行并提供變量、函數(shù)、分枝、環(huán)路控制等功能。這使得用戶可以創(chuàng)建功能強(qiáng)的測(cè)量應(yīng)用，從而大幅縮短開發(fā)時(shí)間。測(cè)試腳本可能包括可由傳統(tǒng) 編程語(yǔ)言（包括決策算法）執(zhí)行的任意程序序列，因此該儀器可以管理測(cè)試的方方面面，無(wú)需與PC進(jìn)行決策溝通。這避免了因GPIB、以太網(wǎng)或USB流量擁擠而引起的延遲，并大幅縮短整個(gè)測(cè)試時(shí)間。

TSP技術(shù)還提供“主機(jī)更少的通道擴(kuò)展”。TSP-Link通道擴(kuò)展總線和100 Base T以太網(wǎng)電纜，允許多部DMM7510儀器與TSP支撐的其他儀器以主從配置方式進(jìn)行連接，因此，它們可以作為一個(gè)集成系統(tǒng)而運(yùn)行。這些儀器包括2450型和2460型交互數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）儀器、2600B系列數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）儀器以及3700A系列開關(guān)/萬(wàn)用表系統(tǒng)。TSP-Link支持在每個(gè)GPIB或IP地址配置多達(dá)32部?jī)x器，因此很容易擴(kuò)展系統(tǒng)滿足應(yīng)用需求。

當(dāng)進(jìn)行程控編程時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)SCPI編程方式支持DMM7510新特性的利用。此外，該儀器與許多其他數(shù)字萬(wàn)用表使用的SCPI語(yǔ)言代碼兼容。這個(gè)代碼兼容性避免了新儀器進(jìn)行能力升級(jí)時(shí)遇到的重寫代碼問(wèn)題。

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